SP-D20-R14半導體及中子探測器輻射測量儀

更新時間：2025-11-01

訪問量：2367

簡要描述：

SP-D20-R14半導體及中子探測器采用鈍化、離子注入與平面光刻等多種先進半導體工藝技術相結合，經過攻克鈍化保護、離子注入、低漏電流、大面積、高能量分辨率、環境光下使用等難題后，成功開發出用于α和β粒子的能譜和計數測量的高性能PIPS探測器。

在線詢價聯系我們

產品介紹：

品牌	何亦	產品英文名稱	PIPS
測量物質	其他	儀器類型	便攜
靈敏度	分辨率0.40%	測量范圍	α、β、γ/X、n核輻射測量
測量類型	1	探測器類型	中子
儀器種類	計量/劑量率儀

SP-D20-R14半導體及中子探測器

SP-D20-R14半導體及中子探測器系列一
一、PIPS半導體探測器

PIPS半導體探測器外觀圖

AB系列的PIPS探測器測量226Ra-α源能譜
（型號：SP-D20-R14，靈敏直徑20mm，真空避光下測量，50V偏壓，jia能量分辨率0.40%）

一、系列產品簡介
采用鈍化、離子注入與平面光刻等多種先進半導體工藝技術相結合，經過攻克鈍化保護、離子注入、低漏電流、大面積、高能量分辨率、環境光下使用等難題后，成功開發出用于α和β粒子的能譜和計數測量的高性能PIPS探測器。

二、產品特點
1) 超薄死層（入射窗），表面鈍化處理，穩定性好；離子注入結，堅固可靠；
2) 漏電流低，噪聲低，幾何探測效率高，β探測效率高；
3) 可在真空環境下使用中，AB系列探測器的α能量分辨率高；
4) CAM系統探測器表面可沖洗、可擦拭。特殊定制可經350℃高溫烘烤。
技術指標：
靈敏直徑20mm，真空避光下測量，50V偏壓，jia能量分辨率0.40%

二、SiC半導體探測器

圖1. SiC半導體探測器外形圖

圖2. SiC探測器測量241Am-α粒子能譜
（型號：SiC-CB10-20P，靈敏面積100mm2，真空閉光下測量，偏壓50V，能量分辨率0.95%）
一、系列一產品簡介
SiC探測器在抗高溫、抗輻射以及耐高擊穿電壓等方面的性能非常*，SiC探測器可用于α、β、γ/X、n核輻射測量，廣泛應用于核能、電子、航天等領域。
二、產品特點
1) α能量分辨率高（≤1%@5.48MeV），極低漏電流（≤10nA/cm2）
2) 耐高溫（烘烤溫度≤350℃）耐輻照（快中子≥1E14/cm2）

三、ZZSO中子探測器

圖1. ZZSO中子探測器n-γ響應能譜
系列一產品簡介
ZZSO中子探測器具有熱中子探測效率高、快慢中子響應、伽馬甄別能力強、時間響應快、輸出幅度大、噪聲低等優點，各種規格的ZZSO探測器可用于中子個人劑量計、中子報警儀、中子巡測儀、中子當量劑量儀等核儀器儀表。

產品特點
1) 熱中子探測效率高，快慢中子同時測量，中子伽馬同時測量
2) 靈敏度高，時間響應，中子-伽馬串擾率低
3) 先進穩可靠性，集成度高，功耗低