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更新時(shí)間：2025-11-01
訪(fǎng)問(wèn)量：2704
| 品牌 | 何亦 | 產(chǎn)品英文名稱(chēng) | NaI-Calibration |
|---|---|---|---|
| 測(cè)量物質(zhì) | 液體 | 儀器類(lèi)型 | 實(shí)驗(yàn)室 |
| 靈敏度 | ·積分控制精度可以人為調(diào)節(jié),軟件默認(rèn)值為3% | 測(cè)量范圍 | 刻度的能量范圍45keV到7MeV |
| 測(cè)量類(lèi)型 | 無(wú)源效率刻度 | 探測(cè)器類(lèi)型 | 高純鍺 |
| 儀器種類(lèi) | 能譜儀 | 供貨周期 | 5天 |
NaI閃爍探測(cè)器無(wú)源效率刻度軟件
一、NaI閃爍探測(cè)器無(wú)源效率刻度軟件產(chǎn)品簡(jiǎn)介
NaI閃爍探測(cè)器無(wú)源效率刻度軟件刻度方法主要有兩種，一是相對(duì)測(cè)量方法，二是無(wú)源效率刻度方法。在退役核設(shè)施放射性測(cè)量、放射性工作場(chǎng)所測(cè)量、核事故應(yīng)急中污染物放射性快速測(cè)量、人體器官放射性測(cè)量、生物樣品放射性快速測(cè)量、放射性廢物非破壞性測(cè)量等領(lǐng)域，很難采用借助標(biāo)準(zhǔn)源的相對(duì)測(cè)量方法獲得效率刻度因子。
無(wú)源效率刻度軟件NaI-Calibration是用于NaI γ射線(xiàn)探測(cè)器無(wú)源效率刻度的新產(chǎn)品，它采用數(shù)值方法計(jì)算γ光子的輸運(yùn)過(guò)程，在此基礎(chǔ)上得到效率刻度因子，幾何和材料建模能力強(qiáng)大，計(jì)算精度高，速度快，界面簡(jiǎn)單，使用方便。由于是采用理論計(jì)算方法，因此，對(duì)于復(fù)雜幾何形狀和成分的放射源都快速地獲得效率刻度曲線(xiàn)。NaI-Calibration克服了相對(duì)測(cè)量方法的缺點(diǎn)，同時(shí)避免了標(biāo)準(zhǔn)源的使用和管理，較大地拓展了NaI探測(cè)器的適用范圍，提高了NaI探測(cè)器的定量分析能力。
NaI-Calibration是在解決兩個(gè)關(guān)鍵技術(shù)的基礎(chǔ)上研制成功的NaI無(wú)源效率刻度軟件，一是光子在探測(cè)器中的能量沉積計(jì)算，二是探測(cè)器中產(chǎn)光效率和光收集效率的表征方法。光子在探測(cè)器中的能量沉積部分具備一般的無(wú)源效率刻度軟件的優(yōu)點(diǎn)，即可視化建模功能，對(duì)于任意組分材料和任意屏蔽物，精密化計(jì)算能量沉積功能；探測(cè)器表征方面通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)量得到點(diǎn)源在不同位置的能量沉積，然后反演出探測(cè)器的產(chǎn)光效率和收集效率隨能量變化曲線(xiàn)。NaI-Calibration經(jīng)過(guò)了不同形狀、不同活度的體源效率測(cè)量的考核。
二、NaI閃爍探測(cè)器無(wú)源效率刻度軟件性能
· 采用功能強(qiáng)大的CSG建模，實(shí)現(xiàn)對(duì)任意形狀的體源的三維可視化快速建模；
· 放射源到探測(cè)器的距離為0到無(wú)窮遠(yuǎn)；
· 刻度的能量范圍45keV到7MeV；
· 積分控制精度人為調(diào)節(jié)，軟件默認(rèn)值為3%；
· 效率刻度曲線(xiàn)計(jì)算時(shí)間：對(duì)于形狀對(duì)稱(chēng)的體源（如環(huán)境樣品源），計(jì)算時(shí)間小于20秒；
· 對(duì)于形狀非對(duì)稱(chēng)的體源，計(jì)算時(shí)間一般少于10分鐘；
· 軟件輸出為*.TXT格式文件；
· 中、英文界面。
三、本公司的服務(wù)
定制軟件界面；
定制報(bào)告格式；
免費(fèi)培訓(xùn)和技術(shù)咨詢(xún)。
